美国镀铜镍金半导体膜厚测试仪

美国镀铜镍金半导体膜厚测试仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 

双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

美国镀铜镍金半导体膜厚测试仪应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。

美国镀铜镍金半导体膜厚测试仪快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏度 

简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱  

性能优化，可分析的元素范围大：预置800多种容易选择的应用参数/方法 

卓越的长期稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果 

例行进行简单快速的波谱校准：可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正 

坚固耐用的设计：可在实验室或生产线上操作 ，坚固的工业设计 

美国镀铜镍金半导体膜厚测试仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。 

让客户满意，为客户创造大的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图。联系人：舒翠  136 0256 8074  0755-29371655  QQ:2735820760