CMI900X荧光镀层测厚仪

产品介绍CMI900是一款性价比极高的台式X射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度。简单元素的区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素性能优化。测量元素范围广：可预设参数，提供800多种预设应用参数/方法。杰出的长期稳定性：自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果，简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正。坚固耐用的设计，可以在实验室或生产线上操作，坚固的工业设计，经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台产品属性电镀液分析；金成色分析；涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围Ti-U;可同时进行多达15层元素成分分析；测量方法符合ISO3497，ASTM B568和DIN 50987。其他说明在电子行业与金属合金行业中是必不可少的设备，可以提高生产力，确保元件的可靠性，优化质量控制，从而确保产品生命周期。交易说明提供设备的产地证明、报关证明。直接从德国发货到客户工厂。