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Agilent E5070B网络分析仪提供了最快、最精确的射频器件测量能力。其先进的体系结构通过减少扫描次数来完成多端口测量，进一步提高了测试吞吐率。
主要特性与技术指标
•在测试端口处保持125 dB动态范围（典型值）
•扫描速度：9.6微秒/点
•迹线噪声：0.001 dB rms
•集成的2、3和4端口，带有平衡测量能力
•夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换
•用于变频设备的频率偏置模式
•内置Visual Basic ® for Applications（VBA）
•测量向导助手软件 Agilent
E5070B 300 KHz 至 3 GHz
E5071B 300 KHz 至 8.5 GHz
实现高精度和高效的 RF 元件评估
一体化的二端口、三端口和四端口测试装置 强大的分析功能
内置的平衡测量
先进的频率偏置测量
扩展的误差校正能力
提高吞吐率，测量质量和易用性
易用性
最多 16 个 1 窗口，每窗口 16 条迹线
10.4 英寸彩色 LCD
优异的测量精度
Agilent ENA 极大提高了测量
精度，能够满足当前和未来的测试
需要。由于它在 10 Hz IFBW 处有
高达125 dB2的宽动态范围，因此在
所要动态范围下有更快的扫描速
度。3 kHz IFBW处的轨迹噪声只有
0.001 dB。它可精确测量滤波器的
通带纹波。ENA优异的测量性能改
进了测试质量和重复能力，以及影
响产出能力和测试总成本的测试
吞吐率。
1. 可使用 6 个不同通道和迹线设置
2. 典型值
2强大的分析功能
标记分析和标记功能
平衡的转换
匹配电路仿真
作为复数阻抗的端口特性转换
时域分析
频率偏置扫描
阻抗转换
可选触摸屏
Windows® 风格的下拉菜单，适用于鼠
标操作
通道选择 / 上一条和下一条迹线选择键
帮助您非常容易地选择您所感兴趣的测
试结果
浏览键
先进测量
内置二个至四个测试端口
高达四个同时的端口测量
完全的四端口校准
10 Hz IFBW 处 125 dB 的宽动态范围 2
3 kHz IFBW 处 0.001 dB rms 的低轨迹
噪声
装载器 I/O
执行与元件装载机的高速握手协议
通过 / 失败，测试序列和用户定义的 I/O
信号
GPIB 接口
连接到外部 PC 控制器
用 USB/GPIB 转换器控制外部测试设备
USB (USBTMC)接口
连接到外部 PC 控制器
通过迅速和便捷的连接控制 ENA
VGA 输出
通过连接外部显器示放大显示测量数据 和 / 或 VBA 编辑器
外设端口
用于ECal、打印机和多端口测试装置的 USB-Host(前面板一个，后面板二个) 用于鼠标和键盘的 PS2 接口
用于打印机的并联接口
10/100 Base-T LAN