镀铜镍金美国膜厚测试仪用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上,拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
镀铜镍金美国膜厚测试仪的优点
> 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源,体积小,使用寿命长,易维护。
> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单,便于维护。
> 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。
> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
> 操作站:提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台,使用最新的JAVA 技术。
> 采用双放大技术和独特大电离室,提升测量范围及精度。
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镀铜镍金美国膜厚测试仪测量技术领先同行15年,在同测量领域独领风蚤,成为膜厚仪之王,精准的数据,高端先进的技术,严格的品质要求,可靠、可信、快速的服务,及一些专业意见与技术扶持,值得您的信赖。
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