美国镀铜镍金镀金膜厚测试仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
膜厚测试仪(电镀膜厚仪)博曼镀层测厚仪/膜厚仪/精工膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪/镀层测量仪/镀层测厚仪/膜厚测量仪/镀层厚度检测仪/测厚仪/膜厚分析仪/镀层分析/无损检测仪/深圳测厚仪/进口测厚仪/金属膜厚测试仪/电镀膜厚测量仪/电镀膜厚检测仪/电镀膜厚测厚仪/金镍测厚仪/铜厚测量仪/博曼测厚仪/膜厚仪/无损测厚仪/薄膜厚度测量仪/薄膜测厚仪仪等高科技仪器,由深圳金东霖厂价直销,我们金东霖公司欢迎各行业的朋友来电咨询、了解或参观相关博曼仪器设备.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.深圳金东霖以最优的服务.为您提供最佳的解决方案。
高分辨硅-PIN-探测器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
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高分辨硅-PIN-探测器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
设备遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统.
采用全新数学计算方法,采用最新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。
美国镀铜镍金镀金膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的专利发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器,操作简单。不用调校.
X-射线管的距离也可测量,操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果.
例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正.
美国镀铜镍金镀金膜厚测试仪坚固耐用的设计.
可在实验室或生产线上操作,坚固的工业设计.
美国镀铜镍金镀金膜厚测试仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
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