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金东霖科技是膜厚测试仪仪器技术力量最为强大的大陆代理商.专业销售:镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪,X射线元素分
析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品RoHS检测仪;公司有多名经验丰富的销售、服务工程师,是bowman仪器在大陆指定委托的服务商,长期以来得到bowman厂家及广大客户的好评。
镀金x荧光膜厚测试仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅-PIN-探测器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
设备遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统.
bowman膜厚测试仪采用全新数学计算方法,采用最新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。
bowman膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的专利发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器,操作简单。不用调校.
X-射线管的距离也可测量,操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。
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